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产品名称:德国EPK2100膜厚计

产品型号:EPK2100

产品报价:

产品特点:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能,可选配探头,所有探头都可配合劝拿糯蠼鹕乘型净主机使用。在选择Z适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。

EPK2100德国EPK2100膜厚计的详细资料:

德国EPK2100膜厚计
MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪
德国EPK(Elektrophysik)公司涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准
德国EPK(Elektrophysik)公司 涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100技术特征
型号
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)
1
1
10
99
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)
 
1
10
99
可用各自的日期和时间标识特性的组数
 
1
500
500
数据总量
1
10000
10000
10000
MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar
 
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar
 
 
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
 
 
存储显示每一个应用行下的所有组内数据
 
 
 
分组打印以上显示和存储的数据和统计值
 
 
显示并打印测量值、打印的日期和时间
 
其他功能
设置极限值
 
 
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值
 
 
连续测量模式中测量稳定后显示读数
 
 
连续测量模式中显示zui小值
 
 
德国EPK(Elektrophysik)公司涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100可选探头参数:

所有探头都可配合劝拿糯蠼鹕乘型净主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
探头
量程
低端
分辨率
误差
zui小曲率半径
(凸/凹)
zui小测量
区域直径
zui小基
体厚度
探头尺寸



 
 
 
 
 
 
 
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm


 
 
 
FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm/N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm/N50μm
φ15x62mm



 
 
 
 
 
 
 
 
 
N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
50μm
φ15x62mm
N2/90
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
CN02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
无限制
φ17x80mm
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层
 
 

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